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最新公告:《ISO恒溫恒濕實驗室驗收標準》 《ISO恒溫恒濕實驗室要達到ISO187-90 23℃±1℃ 50±2% RH GB10739-89、ISO139-73、GB6529-86 20℃±1℃ 65±2% RH標準》 驗收條件: 溫度:18℃-40℃ ±1℃ 濕度:35%-90%RH ±2% Rh 溫度 濕度 1.穩(wěn)定后10min均值差。 t±1.0℃ U±2.0 2.某一點任一個30min周期內(nèi)大波動值 t≤1.0℃ U≤2.0%RH. 3.任意兩點在任一瞬間的測量差值 t≤0.5℃ U≤2.0%RH. 4. 同一點24h任兩個30min周期內(nèi)波動值 t≤0.5℃ U≤1%RH. 5. 新鮮空氣補充量 0.5m3/人min 6. 室內(nèi)空氣循環(huán)次數(shù) 15次/h以上,30/h次以下
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可靠性試驗分類

作者:寶元通 來源:網(wǎng)絡(luò) 時間:2010-09-30 11:10:39

可靠性試驗大體可以分為篩選試驗、評價鑒定試驗及壽命試驗(耐久性試驗)等。所有的可靠性試驗都離不了環(huán)境試驗,因此環(huán)境試驗是可靠性試驗的重要組成部分,目前環(huán)境試驗被認為是確認與改善工業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量主要方法。
篩選試驗:消除在早期失效期發(fā)生的產(chǎn)品缺陷及不良問題,提高產(chǎn)品可靠性的試驗。
評價鑒定試驗:產(chǎn)品選擇的比對試驗、產(chǎn)品的質(zhì)量認證試驗、交收驗收試驗(失效率試驗)。失效率試驗是可以確定一定失效率的期間內(nèi)進行的試驗,常被用于交收試驗和質(zhì)量認證。
壽命試驗: 用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀以及分析失效率上升的原因而進行的試驗。

2.1 試驗形式

2.1 篩選試驗

篩選(Screening ): 采用非破壞性應(yīng)力檢查所有產(chǎn)品消除隱患。
篩選測試:主要用于消除早期失效和減少不合格產(chǎn)品數(shù)目。篩選測試經(jīng)常被生產(chǎn)方作為出廠檢查,使用方作為使用前的檢查。包括高溫條件下的測試和其他應(yīng)力測試,篩選測試被廣泛采用在高可靠產(chǎn)品所使用的各類元器件、組件。
篩選試驗:  為了決定理想的篩選試驗應(yīng)力,必須首先分析早期失效和確定最有可能引起這些失效的應(yīng)力類型。

 

2.2 老化試驗


老化(Burn-in): 產(chǎn)品或元器件在投入使用之前試工作一段時間用于穩(wěn)定產(chǎn)品性能。
老化試驗:目的是為了通過試驗剔除浴盆曲線中的早期失效,常用于整機、組件。為了保證試驗時不使產(chǎn)品劣化變質(zhì),達到甄選缺陷品的目的,其重點是試驗條件如何設(shè)定。

 

2.3 型式試驗(驗證試驗、定型試驗)

型式試驗在產(chǎn)品研制和開發(fā)階段同步或后期進行,試驗?zāi)康氖强己搜兄频漠a(chǎn)品在滿足技術(shù)指標情況下對各種環(huán)境條件的適應(yīng)性。為生產(chǎn)的產(chǎn)品取得相應(yīng)質(zhì)量許可作準備。
型式試驗應(yīng)盡量涵蓋環(huán)境試驗的內(nèi)容。在開發(fā)階段對元器件、PCB板、連接器等易產(chǎn)生問題的部件要通過試驗做到心中有數(shù),生產(chǎn)過程中的部分試驗(如焊接溫度、焊接時間、固化溫度、固化時間、靜電防護),成品階段的產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性。

 

2.4 例行試驗

例行試驗在產(chǎn)品穩(wěn)定生產(chǎn)的過程中進行,分批次的例行試驗,定期的例行試驗,試驗內(nèi)容以高低溫、溫循、溫沖、濕熱為主。可以對產(chǎn)品也可對半成品、組件、或關(guān)鍵件進行試驗

 

2.5 壽命試驗

研制和生產(chǎn)單位最為關(guān)心的問題是產(chǎn)品定型生產(chǎn)后,產(chǎn)品的可靠性和長期工作壽命,壽命試驗作為評價產(chǎn)品的使用時間是非常必要的。
壽命試驗和相應(yīng)的統(tǒng)計計算相結(jié)合可以得出產(chǎn)品的可靠性指標,因此產(chǎn)品的可靠性是和壽命試驗緊密相連的。對不同產(chǎn)品的可靠性可以有以下不同的關(guān)注:

1、短期可靠性
    2、長期可靠性
    3、無故障工作時間

 

2.6 其他試驗(在實際工作中常發(fā)生)

 

在用戶的使用中往往會提出比某一項原定技術(shù)指標更高要求的使用條件,因此必須進行超額使用的試驗。例如230℃、10秒的耐焊接熱元器件,能否在260℃、6秒的條件下使用。



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